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产品名称:
实时X射线检测系统 GO-SCAN C-VIEW
产品摘要:
GO-SCAN C-VIEW是一种重量轻、坚固的实时X射线成像系统，专为手持检查(除其他外)绝缘下腐蚀(CuI)检查而设计。它包括一个高速高分辨率CMOS成像仪和一个电池操作的70 kV x射线管，专为便携式现场操作设计。视频成像系统捕捉图像，并将它们实时显示在手持显示器上。
- 产品描述
GO-SCAN C-VIEW是一种重量轻、坚固的实时X射线成像系统，专为手持检查(除其他外)绝缘下腐蚀(CuI)检查而设计。它包括一个高速高分辨率CMOS成像仪和一个电池操作的70 kV x射线管，专为便携式现场操作设计。视频成像系统捕捉图像，并将它们实时显示在手持显示器上。
单位 值 探测器技术 - CMOS 像素间距 引力场m 99 活动区域 毫米/英寸 102 x 153/4.0 x 6.0 有源分辨率 PXL 1032 x 1048 视频帧速率 FPS 最多30 通讯 - 无线或有线 可调长度 毫米/英寸 300至650/12至26 能量范围 KV 40至70 X射线最大功率输出 W 12 电源 - 德沃特电池 电池性能 h ~2(带5 Ah电池) 重量 公斤/磅 < 6.5 / 14.3 环境 单位 价值 操作温度 C°/F° -20, +50 / -4, +122 贮存温度 C°/F° -30, +60 / -22, +140 IP等级 - 65
